亚胺培南耐药的铜绿假单胞菌中oprD基因突变研究
【出 处】:
【作 者】:
颜英俊
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喻华
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周忠华
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鲁芳
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刘华
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乔宁
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黄文芳
【摘 要】目的研究耐亚胺培南(IMP)铜绿假单胞菌(Pa)外膜孔蛋白oprD基因突变方式和突变意义。方法对来自临床样本的34株耐IMP的Pa用PCR方法直接扩增oprD基因,扩增产物纯化后进行DNA双向序列分析,测得序列在www.ncbi.nlm.nih.gov/BLAST中的BLASTn(序列号:X63152.1 Pseudomonas aeruginosa PAO1)和BLASTx(序列号:NP249649.1 Pseudornonas aeruginosa PAO1)进行DNA序列和氨基酸序列分析,并与标准菌株ATCC27853和2株临床分离IMP敏感Pa比较,分析突变类型和可能影响的oprD外膜蛋白功能域。结果oprD基因突变率高达92.3%(12/13),突变方式多样(包括点突变、缺失突变、插入突变),导致外膜蛋白oprD L2、L3茎环结构上103、115、127、154、158、170、185、186、189位氨基酸改变和(或)移码突变。发现新的碱基变异位点(1079、1114、1196、1206、1288、1300、1301bp)和新的氨基酸突变位点(115、127、154、158、185、189位氨基酸)。以上突变在标准菌株ATCC27853和2株临床IMP敏感的Pa中均未检测到。结论oprD基因发生广泛有意突变,导致L2、L3茎环结构氨基酸改变和(或)移码突变,可能影响oprD与IMP结合,导致本组Pa对IMP耐药。
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